| 雷擊浪涌發(fā)生器廣泛用于通訊等相關(guān)行業(yè)進(jìn)行防雷擊試驗(yàn)。 1、 *主機(jī)網(wǎng)絡(luò)一體式設(shè)計(jì)，內(nèi)置四通道界面程控信號(hào)線(xiàn)網(wǎng)絡(luò)，雙機(jī)配置靈活，全面實(shí)現(xiàn)自動(dòng)控制； 2、 本機(jī)內(nèi)部采用MCU控制架構(gòu)，輕松實(shí)現(xiàn)多模式耦合注入、正負(fù)極性切換、高精度0°至360°角度注入等功能的自動(dòng)控制，具備極性自動(dòng)切換、特征角度注入巡航功能，為解決浪涌試驗(yàn)干擾模式復(fù)雜、測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)提供*解決方案； 3、 人性化操控界面及完善的試品連接接口設(shè)計(jì)極大提升單機(jī)操作的便捷性； 4、 高壓波形形成電路采用進(jìn)口高壓放電開(kāi)關(guān)，保證設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間工作可靠性及放電波形穩(wěn)定性，特性媲美進(jìn)口同類(lèi)產(chǎn)品； 5、 合理的接口設(shè)計(jì)方便搭載各種耦合去耦網(wǎng)絡(luò)及脈沖耐受天線(xiàn)環(huán)，輕松實(shí)現(xiàn)設(shè)備功能性升級(jí)及標(biāo)準(zhǔn)適用性升級(jí)； 6、 多項(xiàng)線(xiàn)路及結(jié)構(gòu)合理細(xì)節(jié)性設(shè)計(jì)，解決試驗(yàn)人員安全問(wèn)題。 (1)即使同樣做設(shè)備的 雷擊浪涌發(fā)生器抗擾度試驗(yàn)，不同的試驗(yàn)方法和試驗(yàn)?zāi)康模玫牡満?去禍網(wǎng)絡(luò)參數(shù)是不同的。例如，用于電源線(xiàn)抗差模T.擾的試驗(yàn)，由于線(xiàn)路阻抗很低，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定其禍合電容用185F，發(fā)生器的內(nèi)阻用20，這代表了低電壓電源網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)源差模阻抗。對(duì)抗共模干擾試驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定要在發(fā)生器的輸出回路中串聯(lián)一個(gè)1x1)的電阻，把它作為低電壓電源網(wǎng)絡(luò)的信號(hào)源共模阻抗。對(duì)于其他一些試驗(yàn)，例如，信號(hào)線(xiàn)上的雷擊浪涌抗擾度試驗(yàn)，由于信號(hào)線(xiàn)阻抗比電源線(xiàn)要高出許多，因此發(fā)生器要附加一個(gè)400的串聯(lián)電阻，用以代表在其他線(xiàn)路上(除電源線(xiàn)外)的對(duì)地阻抗。 (2)即使是同一個(gè)試驗(yàn)，在不同國(guó)家里，由于國(guó)情不同，標(biāo)準(zhǔn)的細(xì)節(jié)也不盡相同。例如，在電源線(xiàn)上做共模試驗(yàn)，美國(guó)考慮其低壓電網(wǎng)中線(xiàn)的接地情況不同，故標(biāo)準(zhǔn)(ANSI/IEEE C62.41)運(yùn)用時(shí)將上述10。串聯(lián)電阻取消了，它的禍合電路只有一個(gè)95F的電容(發(fā)生器的212輸出阻抗仍保留)。由于發(fā)生器的等效內(nèi)阻減小，因此，美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的共模試驗(yàn)比我國(guó)的GB/T17626.5和的IEC61000-4-5標(biāo)準(zhǔn)要嚴(yán)格得多。 脈沖群發(fā)生器，對(duì)于多芯電纜的試驗(yàn)(例如6芯以上的電纜)在進(jìn)行射頻傳導(dǎo)干擾抗擾度試驗(yàn)時(shí)，采用禍合夾注入方式比較合適。標(biāo)準(zhǔn)中推薦的注入方式有電流夾和電磁禍合夾兩種。注意，在夾注入方式中，禍合和去禍功能是分開(kāi)的，夾子僅僅提供禍合.而共模阻抗和去禍功能是建立在輔助設(shè)備上的，就如同輔助設(shè)備是禍合和去禍裝置的一部分。 變頻電流夾有較小的輸出阻抗，這是因?yàn)樗斜容^大的匝數(shù)比.例如，當(dāng)電流夾的匝數(shù)比為5:1時(shí)(夾上繞5匝，夾中心部分電纜一穿而過(guò))，使試驗(yàn)發(fā)生器的輸出阻抗由5052變換成212。這樣，經(jīng)變換后的發(fā)生器輸出阻抗與試驗(yàn)系統(tǒng)所規(guī)定的1500共模阻抗相比可以不計(jì).電流夾的這一特點(diǎn)，使得試驗(yàn)系統(tǒng)中的共模阻抗和去禍功能要通過(guò)輔助設(shè)備方能實(shí)現(xiàn)。 試驗(yàn)時(shí)，為使測(cè)試的誤差為zui小，試驗(yàn)發(fā)生器的輸出電平是通過(guò)對(duì)Um『的設(shè)定來(lái)確定的，而不是直接對(duì)Ua來(lái)設(shè)定。 上述設(shè)定為未經(jīng)幅度調(diào)制的載波信號(hào)。LED靜電測(cè)試設(shè)定要在若干頻率點(diǎn)上進(jìn)行，一般每十個(gè)頻率點(diǎn)中至少要對(duì)一個(gè)頻率進(jìn)行設(shè)定和校正。 如果試驗(yàn)中要用到幾個(gè)禍合l去禍網(wǎng)絡(luò)，那么對(duì)這幾個(gè)禍合l去禍網(wǎng)絡(luò)都要進(jìn)行設(shè)定校正。要注意在校正中對(duì)數(shù)據(jù)的記錄，以備日后使用。 |
