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        聊聊接觸靜電和非接觸靜電的區(qū)別
        點(diǎn)擊次數(shù):962 更新時(shí)間:2023-11-24
          在工業(yè)中的危害:靜電的產(chǎn)生在工業(yè)生產(chǎn)中是不可避免的,其造成的危害主要可歸結(jié)為以下兩種機(jī)理:
         
          1、靜電放電(ESD)造成的危害:引起電子設(shè)備的故障或誤動(dòng)作,造成電磁干擾。
         
          2、擊穿集成電路和精密的電子元件,或者促使元件老化,降低生產(chǎn)成品率。
         
          3、高壓靜電放電造成電擊,危及人身安全。
         
          4、在多易燃易爆品或粉塵、油霧的生產(chǎn)場(chǎng)所極易引起爆炸和火災(zāi)。
         
          5、靜電引力(ESA)造成的危害:電子工業(yè):吸附灰塵,造成集成電路和半導(dǎo)體元件的污染,大大降低成品率。
         
          6、靜電對(duì)LED燈珠的危害,因瞬間的電場(chǎng)或電流產(chǎn)生的熱,使LED燈珠局部受傷,表現(xiàn)為漏電流迅速增加,仍能工作,但亮度降低(白光將會(huì)變色),壽命受損。
         
          7、因電場(chǎng)或電流損壞LED燈珠的絕緣層,導(dǎo)致LED燈珠出現(xiàn)損壞,無(wú)法工作,主要表現(xiàn)為死燈。
         
          靜電測(cè)試方法:
         
          般情況下,靜電測(cè)試分為兩種方式,一種為接觸靜電測(cè)試,另-一種是非接觸靜電測(cè)試,通常電子元器件的接觸防靜電電壓值要低于非接觸防靜電電壓值。工業(yè)防靜電標(biāo)準(zhǔn):接觸防靜電電壓6kV,非接觸防靜電電壓8kV.
         

          靜電測(cè)試前的準(zhǔn)備工作:
         
          連接好準(zhǔn)備測(cè)試的設(shè)備,確保測(cè)試前的設(shè)備是正常運(yùn)行的。
         
          連接好靜電放電測(cè)試儀,確保測(cè)試儀的地線與設(shè)備的地線相互連接,形成放電回路。
         
          接觸式靜電
         
          測(cè)試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼,電源接口,控制接口,以及通訊接口等。
         
          測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試靜電電壓從2kV開始增加,每次增加2kV,直到20kV為止,即測(cè)試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV。測(cè)試頻率標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試放電分為兩種頻率,但放電次數(shù)均為10次。一種頻率是1秒鐘放電1次,連續(xù)放電10次,為低頻靜電放電測(cè)試;另-種頻率是0.1秒鐘放電1次,連續(xù)放電10次,為高頻靜電放電測(cè)試。測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn),硬件無(wú)任何損壞,通訊正常,數(shù)據(jù)無(wú)錯(cuò)誤,丟失等情況。測(cè)試停止標(biāo)準(zhǔn),在測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí),如果硬件發(fā)生損壞,通訊異?;蚱渌魏尾徽5那闆r,測(cè)試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。測(cè)試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測(cè)試精度,也可以在測(cè)試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí),先調(diào)低靜電電壓1kV進(jìn)行測(cè)試,如果測(cè)試通過(guò),則調(diào)高靜電電壓0.5kV進(jìn)行測(cè)試,如果測(cè)試不通過(guò),則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5kV進(jìn)行測(cè)試,依次類推,調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等,直到精度達(dá)到要求為止,統(tǒng)計(jì)臨界靜電電壓測(cè)試結(jié)果,
         
          測(cè)試順序標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試順序?yàn)橄却_定電壓,再確定頻率。電壓由低到高,頻率由慢到快。即依次為2kV低頻測(cè)試,2kV高頻測(cè)試,4kV低頻測(cè)試,4kV高頻測(cè)試,直到20kV低頻測(cè)試,20kV高頻測(cè)試。在提高精度測(cè)試過(guò)程中也同樣遵循先確定電壓,再確定頻率這一原則測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí),在某一電壓和頻率下,如果連續(xù)20次測(cè)試通過(guò),即判定在當(dāng)前狀態(tài)下,系統(tǒng)工作正常:否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測(cè)試過(guò)程中出錯(cuò)的次數(shù),計(jì)算出錯(cuò)的概率,填入測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表中。測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn),先將靜電槍對(duì)準(zhǔn)被測(cè)試項(xiàng)目(如:機(jī)箱,各個(gè)接口),移動(dòng)靜電槍至被測(cè)試項(xiàng)目的表面,要求靜電槍與被測(cè)試項(xiàng)目的表面保持垂直且接觸,扣動(dòng)靜電槍扳機(jī),待10次放電全部結(jié)束后,松開靜電槍扳機(jī),將靜電槍從被測(cè)試項(xiàng)目表面移開,準(zhǔn)備下一次測(cè)
         
          非接觸式靜電:
         
          測(cè)試項(xiàng)目包括設(shè)備機(jī)箱外殼,電源接口,控制接口,以及通訊接口等。
         
          測(cè)試電壓標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試靜電電壓從2kV開始增加,每次增加2kV,直到20kV為止,即測(cè)試靜電電壓分別為2kV,4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18 kV, 20kV.測(cè)試通過(guò)標(biāo)準(zhǔn),硬件無(wú)任何損壞,通訊正常,數(shù)據(jù)無(wú)錯(cuò)誤,丟失等情況。
         
          測(cè)試停止標(biāo)準(zhǔn),在測(cè)試某一項(xiàng)目時(shí),如果硬件發(fā)生損壞,通訊異常或其他任何不正常的情況,測(cè)試將不向更高標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,而只統(tǒng)計(jì)當(dāng)前測(cè)試結(jié)果。測(cè)試轉(zhuǎn)為下一項(xiàng)。為提高測(cè)試精度,也可以在測(cè)試設(shè)備出現(xiàn)異常情況時(shí),先調(diào)低靜電電壓1kV進(jìn)行測(cè)試,如果測(cè)試通過(guò),則調(diào)高靜電電壓0.5kV進(jìn)行測(cè)試,如果測(cè)試不通過(guò),則繼續(xù)調(diào)低靜電電壓0.5kV進(jìn)行測(cè)試,依次類推,調(diào)節(jié)幅度不斷減小為0.25kV, 0.125 kV等,直到精度達(dá)到要求為止。
         
          測(cè)試順序標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試順序?yàn)殡妷河傻偷礁?。即依次?kV測(cè)試,4kV測(cè)試,6kV測(cè)試,直到20kV測(cè)試。測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試某--項(xiàng)目時(shí), 在某--電壓下,如果連續(xù)20次測(cè)試通過(guò),即判定在當(dāng)前狀態(tài)下,系統(tǒng)工作正常;否則統(tǒng)計(jì)連續(xù)20次測(cè)試過(guò)程中出錯(cuò)的次數(shù),計(jì)算出錯(cuò)的概率,填入測(cè)試數(shù)據(jù)報(bào)表中。測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn),先將靜電槍對(duì)準(zhǔn)被測(cè)試項(xiàng)目(如:機(jī)箱,各個(gè)接口)且相隔5厘米以上,扣動(dòng)靜電槍扳機(jī),移動(dòng)靜電槍靠近被測(cè)試項(xiàng)目的表面,移動(dòng)過(guò)程中要求靜電槍與被測(cè)試項(xiàng)目的表面保持垂直,待空氣放電結(jié)束后,將靜電槍從被測(cè)試項(xiàng)目表面移開,松開靜電槍扳機(jī),準(zhǔn)備下一次測(cè)試。
         
          注意:1.測(cè)試過(guò)程中,某元器件測(cè)試結(jié)果會(huì)因?yàn)樵骷€(gè)體差異而有所不同,如保險(xiǎn),二極管等,這就需要對(duì)不同的元器件進(jìn)行多次測(cè)量,求出所有元器件測(cè)試結(jié)果的平均值作為最終的測(cè)試結(jié)果。
         
          測(cè)試過(guò)程中,一般情況下,不能直接對(duì)芯片進(jìn)行靜電放電。如有特殊需要,一定要對(duì)某芯片進(jìn)行靜電放電測(cè)試時(shí),應(yīng)盡量減小每次靜電增加的幅度,這樣可以更好的測(cè)試出防靜電電壓真實(shí)值的接近值,使測(cè)試更加準(zhǔn)確。
         
          測(cè)試過(guò)程中,為保障測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,每次靜電放電結(jié)束后到下次靜電放電開始前的時(shí)間間隔不能太小,要留給系統(tǒng)足夠的恢復(fù)時(shí)間,即要留夠系統(tǒng)電荷釋放的時(shí)間,時(shí)間間隔一般為10秒鐘。待系統(tǒng)電荷充分釋放后,才能進(jìn)行下一次測(cè)試。
         
          參考標(biāo)準(zhǔn):
         
          ☆電子產(chǎn)品防靜電放電控制手冊(cè)GJB/Z105-98☆電子工業(yè)用合成纖維防靜電綢性能及試驗(yàn)方法SJ/T11090-1996☆防靜電鞋、導(dǎo)電鞋技術(shù)要求GB4385—1995☆電子產(chǎn)品制造防靜電系統(tǒng)測(cè)試方法SJ/T10694-96☆ 電子元器件防靜電要求QJ1693-89☆防靜電操作系統(tǒng)技術(shù)要求QJ1950-90☆ 防靜電安全工作臺(tái)技術(shù)要求QJ2177-91☆ 靜電測(cè)試方法QJ1875-90☆ 防靜電操作系統(tǒng)通用規(guī)范QJ2846-96☆ 電子元器件制造防靜電技術(shù)要求SJ/T10630-95☆ 電子設(shè)備制造防靜電技術(shù)要求SJ/T10533-94☆ 《靜電敏感器件使用規(guī)則》宣貫材料Q/W293-92-2☆ 電子計(jì)算機(jī)機(jī)房施工及驗(yàn)收規(guī)范SJ/T30003-93☆ 通訊設(shè)備靜電防護(hù)通則YD/T754-1995☆ 靜電敏感器件使用規(guī)則Q/W293-92☆ 電子儀器和設(shè)備靜電要求QJ2245-92☆ 半導(dǎo)體器件使用規(guī)則QJ2225-92☆ 集成電路防靜電包裝管SJ/T10147-91☆ 通信機(jī)房靜電防護(hù)通則YD/T754-95☆ 信息技術(shù)設(shè)備靜電放電敏感度試驗(yàn)SJ20154-92☆ 電火工品生產(chǎn)防靜電安全規(guī)程WJ1912-90☆ 防靜電周轉(zhuǎn)容器通用規(guī)范SJ/T11277-2002☆ 防靜電活動(dòng)地板通用規(guī)范SJ/T10796-2001☆ 防靜電貼面板通用規(guī)范SJ/T11236-2001☆ 地板覆蓋層和裝配地板靜電性能的試驗(yàn)方法SJ/T11159-98
         
          最新認(rèn)證培訓(xùn)參考標(biāo)準(zhǔn)
         
          國(guó)際標(biāo)準(zhǔn) IEC61340-5-1:2007
         
          美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)ANSI/ESDS20.20-2007
         
          中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)GJB3007-2009
         
          行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ/T10694-2006(中國(guó)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)FLOMCESD 標(biāo)準(zhǔn))
         
          就認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)而言,目前歐美流行的ESD體系有IEC、EIA、ESDA以及IPC四大類,其中IPC的ESD標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際上是ESDA和EIA標(biāo)準(zhǔn)的引用,所以嚴(yán)格意義上流行的體系是三類。
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